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產品詳情
CS19013 局部放電測試儀是一款適用于高壓隔離集成電路(如光耦、磁耦、隔離放
大器、隔離式數字通信芯片)、半導體高壓開關(如 IGBT、MOSFET),及高壓絕緣組件(如隔離基板)、線圈及大功率定子、低容值高壓電容器等器件局部放電、耐壓、絕緣及高壓下被測品的電容及介質損耗測量的綜合分析儀器??蓪崿F 0.1kV~10kV 范圍內被測品相關參數測試。
CS19013 局部放電測試儀采用試品串聯耦合測量模式,測試方法符合通用局放測量標準 GB/T 7354-2018 (IEC60270:2000),同時也符合特定器件的局放測量標準,如光隔離器安全標準(IEC60747-5-5)、數字隔離器安全標準(IEC60747-17)、低電壓設備安全標準(IEC60664-1)、半導體開關組件標準(IEC 60747-15)等;具有自定義高壓輸出波形、多種測量條件合格判斷功能,用戶可根據需求柔性組合,實現 0.01uA~1mA泄漏電流測量和 1pC~10000pC 局部放電測量,可滿足大多數集成隔離器件和高絕緣材料的產品品質測試需求。
CS19013 局部放電綜合測試儀的主要應用領域:(1)工業生產,依據相關標準在高壓器件(組件)生產過程中進行局部放電常規測試或現場診斷測試;(2)科學研究,對高壓絕緣材料進行局部放電特性研究或絕緣劣化過程研究。
組成部分:CS19013主機、CS19011C局部放電校準器
局部放電測試儀技術參數
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型號 |
CS19013 |
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測試模式 |
AC/DC/IR/PD |
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交流耐壓源 |
輸出 電壓 |
范圍 |
0.100kV~10.00kV |
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精度 |
±(1%+0.2%滿量程) |
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分辨率 |
1V |
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最大輸出功率 |
200VA(10.00kV/20mA) |
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最大額定電流 |
20mA |
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下限電流范圍 |
0~19.99mA,0=不判斷下限 |
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電流檔位 |
200uA、2mA、20mA |
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輸出波形 |
正弦波 |
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輸出波形失真度 |
≤2%(空載或純阻性負載) |
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波峰因數 |
1.3~1.5 |
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輸出信號類型 |
DDS+功放 |
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電壓上升時間 |
0,0.3s~999.9s 0=電壓上升時間關 |
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測試時間 |
0,0.3s~999.9s 0=連續測試 |
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電壓下降時間 |
0,0.3s~999.9s 0=電壓下降時間關 |
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間隔時間 |
0.0s~999.9s 0=間隔時間關 |
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輸出電壓模式 |
N模式、G模式 |
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直流耐壓源 |
輸出 電壓 |
范圍 |
0.100kV~10.00kV |
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精度 |
±(1%+0.2%滿量程) |
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分辨率 |
1V |
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最大輸出功率 |
100W(10.00kV/10mA) |
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最大額定電流 |
10mA |
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電流檔位 |
2uA、20uA、200uA、2mA、10mA |
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紋波系數 |
≤5% |
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放電時間 |
≤200ms |
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最大充電電流 |
10mA |
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電壓上升時間 |
0,0.3~999.9s 0=電壓上升時間關 |
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測試時間 |
0,0.3~999.9s 0=連續測試 |
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電壓下降時間 |
0,0.3~999.9s 0=電壓下降時間關 |
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間隔時間 |
0.0~999.9s 0=間隔時間關 |
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延時報警時間 |
0,0.3~999.9s 0=延時報警時間關 |
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輸出電壓模式 |
N模式、G模式 |
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絕緣電阻源 |
輸出電壓 |
范圍 |
0.100kV~5.000kV |
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精度 |
±(1%+0.2%滿量程) |
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分辨率 |
1V |
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最大上限設定值 |
100 000MΩ |
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最大下限設定值 |
99 999MΩ |
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最小下限設定值 |
1MΩ |
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電壓上升時間 |
0,0.3s~999.9s 0=電壓上升時間關 |
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測試時間 |
0,0.3s~999.9s 0=連續測試 |
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間隔時間 |
0.0s~999.9s 0=間隔時間關 |
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自動切換檔位 |
可設置為開、關 |
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放電時間 |
≤200ms |
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局部放電表[1] |
最大負載容值 |
1000pF |
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測量范圍 |
試品容值范圍 |
Q擋位(pC) |
分辨率(pC) |
精度 |
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100pF |
10 |
0.1 |
±(1%示數+0.5pC) |
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50 |
0.1 |
±(1%示數+1pC) |
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200 |
1 |
±(1%示數+1pC) |
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1000 |
1 |
±(1%示數+10pC) |
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500pF |
20 |
0.1 |
±(1%示數+1pC) |
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100 |
1 |
±(1%示數+2pC) |
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500 |
1 |
±(1%示數+2pC) |
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5000 |
1 |
±(1%示數+20pC) |
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1000pF |
80 |
1 |
±(1%示數+5pC) |
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400 |
1 |
±(1%示數+10pC) |
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1500 |
1 |
±(1%示數+10pC) |
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10000 |
1 |
±(1%示數+50pC) |
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PD檢測延遲時間 |
0.0s~999.9s,0=延遲時間關 |
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局放測試漏電流表 |
測量范圍 |
0.1uA~1mA |
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分辨率 |
20uA擋:0.1uA,1mA:1uA |
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測量精度 |
20uA擋:±(2%示數 + 0.5uA) 1mA擋:±(1%示數 + 10uA) |
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電壓表 |
范圍 |
0.100kV~10.00kV |
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精度 |
±(1%+0.2%滿量程) |
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分辨率 |
1V |
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顯示數值 |
均方根值 |
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耐壓測試漏電流表 |
測量 范圍 |
AC |
0 ~ 20mA |
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DC |
0 ~ 10mA |
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分辨率 |
AC |
200uA擋:0.1uA,2mA擋:1uA,20mA擋:10uA |
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DC |
2uA擋:0.001uA, 20uA擋:0.01uA, 200uA擋:0.1uA, 2mA擋:1uA, 10mA擋:10uA |
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測量精度 |
±(1%+0.5%擋位量程) |
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偏移功能 |
測試線及附件的的電流可以被減去。 |
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測試模式 |
FLOAT模式:RETURN端不接機殼 |
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電阻表 |
測量范圍 |
1MΩ~100 000MΩ |
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分辨率 |
1MΩ~9.999MΩ:0.001MΩ,10MΩ~99.99MΩ:0.01MΩ, 100MΩ~999.9MΩ:0.1MΩ,1000MΩ~9999MΩ:1MΩ 10.00GΩ~100.0GΩ:10MΩ
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精度 |
0.100kV~0.300kV:1.000MΩ~999.9MΩ ±(5%+2個字), 0.301kV~0.500kV:1.000MΩ~999.9MΩ ±(5%+2個字), 1.000GΩ~5.00GΩ ±(10%+2個字), 0.501kV~1.500kV:1.000MΩ~999.9MΩ ±(5%+2個字), 1.000GΩ~9999MΩ ±(10%+2個字), 1.501kV~5.000kV:1.000MΩ~999.9MΩ ±(5%+2個字), 1.000GΩ~100.0GΩ ±(10%+2個字) |
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計時器 |
范圍 |
0~999.9s |
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分辨率 |
0.1s |
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精度 |
±(0.1%+50ms) |
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注:
[1] 泄漏電流測量精度適用于電阻類和容性負載
[2]使用符合IEC60270:2015標準的局部放電校準器驗證局部放電檢測儀的性能,其測量準確度規格定義為與局部放電校準器的相對誤差。
局部放電校準器技術參數
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型號 |
CS19011C |
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輸出電壓 |
0.2V~20V |
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極性 |
負極性 |
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校準分度電容 |
10pF/20pF/50pF |
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電荷輸出范圍 |
10pF: 1pC~200pC 20pF: 10pC~400pC 50pF: 10pC~1000pC |
|
電荷輸出精度 |
10pF:±(3%+0.5pC) 20pF:±(3%+0.5pC) 50pF:±(3%+5pC) |
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上升時間 |
<50ns |
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脈沖周期重復率 |
1~200 Hz,分辨率1Hz |
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每周期脈沖個數 |
1~100 |
|
觸發模式 |
遠程通信觸發 |
|
規格對應環境范圍 |
18℃~28℃,≤70%RH |
|
工作環境范圍 |
0℃~40℃, 15% ~ 95% RH @ ≤40 ℃ 無凝露 |
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儲存環境范圍 |
-10℃~50℃,≤80%RH |
|
電源 |
3節3.7V鋰電池(規格:18650) |
|
質量 |
0.85 kg |
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尺寸(W*H*D) |
140 mm*62 mm*211 mm |
|
型號 |
CS19011C |
|
輸出電壓 |
0.2V~20V |
|
極性 |
負極性 |
|
校準分度電容 |
10pF/20pF/50pF |
|
電荷輸出范圍 |
10pF: 1pC~200pC 20pF: 10pC~400pC 50pF: 10pC~1000pC |
|
電荷輸出精度 |
10pF:±(3%+0.5pC) 20pF:±(3%+0.5pC) 50pF:±(3%+5pC) |
|
上升時間 |
<50ns |
|
脈沖周期重復率 |
1~200 Hz,分辨率1Hz |
|
觸發模式 |
遠程通信觸發 |
|
規格對應環境范圍 |
18℃~28℃,≤70%RH |
|
工作環境范圍 |
0℃~40℃, 15% ~ 95% RH @ ≤40 ℃ 無凝露 |
|
儲存環境范圍 |
-10℃~50℃,≤80%RH |
|
電源 |
3節3.7V鋰電池(規格:18650) |
|
質量 |
0.85 kg |
|
尺寸(W*H*D) |
165 mm*62 mm*206 mm |
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